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植物冠層分析系統(tǒng)/儀是測量作物田間長勢診斷的有力工具,主要用于作物葉片及冠層光譜的測量,可現(xiàn)場診斷作物的營養(yǎng)狀況,可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。
托普云農(nóng)科技生產(chǎn)有多種冠層分析儀,可助力科研院所、高等院校等進行植物學(xué)研究。冠層分析儀TOP-1200選用敏感波段的光源照射作物冠層,感光部件同步獲取冠層反射光譜信息,耦合作物生長監(jiān)測診斷模型,能獲取作物冠層信息、養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、病蟲害程度等。
TP-3051D光合作用檢測儀主要應(yīng)用于農(nóng)林業(yè)、園藝、微生物、昆蟲等專業(yè)行業(yè)及科學(xué)試驗中??梢詼y定CO2濃度、葉片溫度、光合有效輻射、葉室溫濕度,通過科學(xué)計算可得出葉片光合速率 、葉片蒸騰速率、細胞間CO2濃度、氣孔導(dǎo)度、水分利用率等光合作用指標(biāo)。
GXY-B植物根系分析系統(tǒng)專用于洗根后的植物根系分析,系統(tǒng)軟件可以測量分析植物根系長度、直徑、表面積、體積、根尖數(shù)、分叉數(shù)、關(guān)節(jié)點、連接點數(shù)、交疊數(shù)、根瘤、盒維數(shù)等,也可測量針葉面積、體積、棉纖維粗細、長度等,適用于植物根系形態(tài)學(xué)、構(gòu)造研究、植物科學(xué)研究等,解決根系結(jié)構(gòu)和幾何參數(shù)難以獲取的問題,提升從業(yè)人員工作效率。
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